在測壓敏電阻漏流時(shí)，顯示漏流值為什么漸漸上升至穩(wěn)定，短時(shí)間內(nèi)測同一個(gè)元器件，測出的數(shù)據(jù)為什么不一致？

 被測壓敏電阻在測試時(shí)，由于元器件內(nèi)部溫度影響，測漏流時(shí)，大電流的沖擊，壓敏電阻內(nèi)部溫度變化比較大，漏電流隨著溫度的變化而變化，zui后趨于穩(wěn)定。氣體放電管內(nèi)部由于是隋性氣體組成。在電流的沖擊下，短時(shí)間內(nèi)難以恢復(fù)原來狀態(tài)必須經(jīng)過一段時(shí)間恢復(fù)，才能獲得準(zhǔn)確結(jié)果，保證重復(fù)測試精度。


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